电子显微镜：用于观察材料的微观结构，包括位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：可以分析材料的晶体结构，确定位错的类型和密度。
原子力显微镜：用于测量材料表面的形貌和力学性质，对位错的迁移行为进行研究。
透射电子显微镜：提供高分辨率的图像，有助于深入了解位错的结构和运动。
扫描电子显微镜：可以观察材料的表面形貌，辅助研究位错迁移对表面的影响。
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中析研究所
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