X 射线荧光光谱仪：用于分析涂层中添加物的元素组成。
气相色谱-质谱联用仪：可检测涂层中有机添加物的成分。
扫描电子显微镜：用于观察涂层的微观结构和添加物的分布情况。
热重分析仪：分析涂层中添加物的热稳定性。
红外光谱仪：可检测涂层中添加物的官能团。
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中析研究所
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