枝状生长晶体的检测可以使用以下仪器：
1. 光学显微镜：用于观察晶体的外观形态和结构特征。
2. X射线衍射仪：用于确定晶体的晶型和晶体结构。
3. 扫描电子显微镜(SEM)：用于观察晶体的表面形貌和微观结构特征。
4. 能谱仪/能量色散X射线光谱仪(EDX)：用于分析晶体的元素组成和元素分布。
5. 热重分析仪(TGA)：用于测定晶体的热稳定性和热分解特性。
6. 差示扫描量热计(DSC)：用于研究晶体的热力学性质，如熔点、热容等。
7. 红外光谱仪(FTIR)：用于分析晶体的化学结构和功能基团。
