激光粒度仪：用于测量颗粒的粒径分布，检测范围通常在几纳米到数毫米之间。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察细粒组分的表面形貌和微观结构，检测范围取决于仪器的分辨率。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析细粒组分的晶体结构，检测范围通常在几纳米到几百微米之间。
原子力显微镜（AFM）：能够提供细粒组分的高分辨率表面形貌图像，检测范围较小，通常在纳米级别。
热重分析仪（TGA）：可测量细粒组分在加热过程中的质量变化，检测范围取决于样品的性质和仪器的灵敏度。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/