气相色谱仪：用于分析吸附阱中吸附物质的成分和含量。
热重分析仪：可测量吸附阱在不同温度下的质量变化，从而确定吸附物质的热稳定性。
比表面积分析仪：用于测定吸附阱的比表面积，了解其吸附性能。
红外光谱仪：分析吸附物质的化学键和官能团，推断其结构。
X 射线衍射仪：可对吸附阱进行物相分析，确定其中的晶体结构。
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中析研究所
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