X 射线衍射仪：用于分析物理卷的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：可观察物理卷的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜：用于高分辨率成像和测量物理卷的表面特性。
热重分析仪：可检测物理卷在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热仪：用于分析物理卷的热性能和相变。
硬度测试仪：测量物理卷的硬度。
拉伸试验机：测试物理卷的拉伸性能。
冲击试验机：评估物理卷的抗冲击性能。
表面粗糙度测试仪：测量物理卷的表面粗糙度。
光泽度仪：测定物理卷的表面光泽度。
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中析研究所
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