X 射线衍射仪：用于分析物质的晶体结构，可确定二氧化硅的晶型。
红外光谱仪：用于检测物质的化学键和官能团，可确定二氧化硅的化学结构。
热重分析仪：用于测量物质在加热过程中的质量变化，可确定二氧化硅的热稳定性。
比表面积分析仪：用于测量物质的比表面积，可确定二氧化硅的颗粒大小和表面积。
扫描电子显微镜：用于观察物质的表面形貌和微观结构，可确定二氧化硅的颗粒形状和大小。
X 射线荧光光谱仪：用于分析物质的元素组成，可确定二氧化硅中是否含有其他杂质元素。
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中析研究所
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