X 射线检测设备：可用于检测无连接盘导通孔的内部结构和缺陷。
光学显微镜：用于观察无连接盘导通孔的表面形貌和尺寸。
电子显微镜：提供更高分辨率的图像，可用于详细分析无连接盘导通孔的微观结构。
自动光学检测系统（AOI）：可快速检测无连接盘导通孔的缺陷和尺寸偏差。
电性能测试仪器：如电阻测试仪、电容测试仪等，用于检测无连接盘导通孔的电性能。
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中析研究所
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