X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，确定晶体结构和位向差。
电子背散射衍射仪（EBSD）：利用电子衍射技术，对晶体材料的位向进行测量和分析。
扫描电子显微镜（SEM）：结合 EBSD 附件，可在位向差检测中提供微观结构信息。
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中析研究所
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