X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和外延层的质量。
扫描电子显微镜：可观察外延生长结的表面形貌和结构。
原子力显微镜：用于检测外延生长结的表面粗糙度和形貌。
拉曼光谱仪：可分析外延生长结的晶体质量和成分。
霍尔效应测试仪：用于测量外延生长结的电学性质。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/