微观观察检测通常用于对物质的微观结构和形态进行详细分析，以获取有关其组成、性质和行为的信息。
光学显微镜观察：使用光学显微镜对样品进行直接观察，以了解其微观结构、形态和颜色等特征。
扫描电子显微镜（SEM）观察：通过电子束扫描样品表面，获取高分辨率的微观图像，可用于观察表面形貌、颗粒大小和分布等。
透射电子显微镜（TEM）观察：利用电子束穿透样品，获得微观结构的高分辨率图像，适用于观察晶体结构、纳米材料等。
原子力显微镜（AFM）观察：通过探针与样品表面的相互作用，测量表面形貌和力学性质，可用于研究纳米级别的表面特征。
X 射线衍射（XRD）分析：利用 X 射线照射样品，分析其衍射图谱，确定晶体结构、相组成和晶格参数等。
红外光谱（IR）分析：测量样品对红外光的吸收，用于确定分子结构、化学键和官能团等。
拉曼光谱分析：通过激光照射样品，分析散射光的拉曼位移，获取分子振动和结构信息。
热重分析（TGA）：测量样品在加热过程中的质量变化，用于分析热稳定性、分解温度和成分等。
差示扫描量热法（DSC）：测量样品在加热或冷却过程中的热量变化，用于研究相变、玻璃化转变温度等。
X 射线荧光光谱（XRF）分析：利用 X 射线激发样品，测量荧光光谱，确定元素组成和含量。
电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）分析：通过电感耦合等离子体激发样品，测量发射光谱，用于元素分析。
扫描隧道显微镜（STM）观察：利用隧道电流对样品表面进行扫描，获得原子级别的分辨率图像。
场发射扫描电子显微镜（FESEM）观察：具有更高的分辨率和灵敏度，可用于观察纳米材料和表面微观结构。
能谱分析（EDS）：与 SEM 或 TEM 结合使用，用于分析样品的元素组成和分布。
电子背散射衍射（EBSD）分析：通过测量电子在晶体中的散射，确定晶体取向和织构。
动态光散射（DLS）分析：测量颗粒在溶液中的布朗运动，用于确定颗粒大小和分布。
静态光散射（SLS）分析：测量颗粒对光的散射强度，用于研究大分子的分子量和尺寸。
荧光显微镜观察：利用荧光染料标记样品，通过荧光显微镜观察荧光信号，用于研究细胞结构和功能等。
共聚焦显微镜观察：通过激光扫描样品，获得高分辨率的三维图像，可用于观察细胞内部结构和分子分布。
暗场显微镜观察：利用特殊的照明方式，增强样品与背景的对比度，用于观察微小颗粒和生物样品。
相衬显微镜观察：通过改变光线的相位，增强样品的对比度，适用于观察透明或半透明样品。
偏光显微镜观察：利用偏振光照射样品，观察其偏振特性，用于研究晶体结构和光学性质。
干涉显微镜观察：通过干涉原理测量样品表面的高度和形貌，具有高分辨率和精度。
扫描探针显微镜（SPM）家族：除了 AFM 和 STM，还包括磁力显微镜（MFM）、静电力显微镜（EFM）等，用于研究各种物理性质。
电子显微镜断层扫描（EMT）：结合 TEM 或 SEM，获取样品的三维结构信息。
聚焦离子束（FIB）加工与观察：利用聚焦离子束对样品进行微加工和观察，可用于制备纳米结构和进行原位分析。
低温显微镜观察：在低温环境下观察样品，减少热运动对微观结构的影响。
原位显微镜观察：在实际应用条件下对样品进行实时观察，了解其动态变化过程。
