支架开采检测常用的仪器有：
1. X射线衍射仪（XRD）：用于分析支架开采的矿石中的晶体结构和化学成分。通过照射X射线，可以得到矿石中的晶体衍射图谱，进而确定矿石的成分。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：用于观察和分析支架开采的矿石的形貌和微观结构。通过高能电子束的照射和样品表面的信号检测，可以获得高分辨率的矿石表面形貌和元素分布信息。
3. 能谱仪：用于分析支架开采的矿石中的元素含量。通过测量样品辐射发出的特征X射线能谱，可以定量分析矿石中各种元素的含量。
4. 电子探针微区分析仪（EPMA）：用于对支架开采矿石中的元素进行定性和定量分析。通过电子束的照射，可以得到矿石中各元素的X射线发射谱线，结合谱线强度和标准样品的比较，可以确定矿石中各元素的含量。
5. 偏光显微镜：用于观察和分析支架开采的矿石的显微结构和光学性质。通过对矿石样品进行偏光显微观察，可以得到矿石的颜色、透明度、双折射等信息。
