正离子发射检测是一种常用的表面分析技术，利用正离子在材料表面发射后的能量分布和质量分布来分析样品的表面成分和结构。
常用的仪器包括：
- 能谱仪：用于测量正离子发射的能量分布，常见的能谱仪有能散X射线能谱仪（EDX）、时间飞行质谱仪（TOF-MS）等。
- 质谱仪：利用质谱仪可以测量样品中正离子的质量分布，常见的质谱仪有飞行时间质谱仪（TOF-MS）、四级杆质谱仪等。
- 原子力显微镜（AFM）：可以用于观察样品的表面形貌和结构，进而分析样品的成分和组分分布。
- 扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描电子束和样品表面相互作用所产生的信号，可以获得样品的表面形貌和化学成分等信息。
