1. 光学显微镜：用于观察圆片颗粒的大小、形状和分布情况。通过调节显微镜的放大倍数和对焦，可以获得高清晰度的显微图像。
2. 雷射粒度仪：通过激光束照射样品，利用散射光的强度和角度来获取颗粒的大小分布。可以获取颗粒的平均粒径、粒径分布、粒径累积曲线等相关参数。
3. 图像分析仪：将圆片颗粒放置在仪器的扫描台上，通过高分辨率相机拍摄圆片颗粒的图像，并进行分析和测量。可以获取颗粒的面积、周长、形状系数等参数。
4. 扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描电子束照射样品，利用样品表面散射电子的信号来获得高分辨率的图像。可以观察圆片颗粒的形貌和表面特征。
