1. 扫描电镜（SEM）：扫描电镜是一种高分辨率的显微镜，可以利用电子束来扫描样品表面，并生成反映样品表面形貌和结构的高分辨率图像。
2. 原子力显微镜（AFM）：原子力显微镜利用探针与样品表面之间的相互作用力来测量和生成样品表面形貌的图像，可以实现纳米级别的展开面积比检测。
3. 接触角仪：接触角仪能够测量液体与固体界面之间的接触角，通过测量和分析液体在固体表面上的扩展或收缩程度来评估展开面积比。
4. X射线衍射仪（XRD）：X射线衍射仪可以通过对样品的照射，测量和分析样品表面的晶体结构和晶体相对应的衍射角来确定展开面积比。
