光学显微镜：可用于观察细晶粒的形貌和结构。
扫描电子显微镜（SEM）：能够提供高分辨率的图像，用于分析细晶粒的表面特征和微观结构。
X 射线衍射仪（XRD）：可用于确定细晶粒的晶体结构和相组成。
电子背散射衍射仪（EBSD）：可以测量细晶粒的晶体取向和晶界特征。
原子力显微镜（AFM）：用于研究细晶粒的表面形貌和粗糙度。
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中析研究所
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