X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和点阵参数。
电子显微镜：可以观察材料的微观结构和点阵排列。
原子力显微镜：用于研究材料表面的原子级结构和点阵特征。
拉曼光谱仪：可提供关于分子振动和点阵对称性的信息。
中子衍射仪：适用于研究磁性材料和轻元素的点阵结构。
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中析研究所
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