光学显微镜：用于观察位错缀饰的形态和分布。
电子显微镜：可以提供更高分辨率的位错缀饰图像。
X 射线衍射仪：用于分析位错缀饰的晶体结构。
原子力显微镜：可用于研究位错缀饰的表面形貌和力学性质。
扫描隧道显微镜：能够提供原子级分辨率的位错缀饰图像。
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中析研究所
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