X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，包括位错线。
磁力显微镜：用于检测磁性材料中的位错和磁畴结构。
光学金相显微镜：通过观察金相组织来间接判断位错的存在。
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中析研究所
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