X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，确定晶体结构和位错等缺陷。
电子显微镜：包括透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM），可用于观察材料的微观结构和位错形态。
原子力显微镜（AFM）：可以提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错割阶。
光学显微镜：在某些情况下，可用于初步观察位错割阶。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/