针状相检测主要用于检测金属材料中的针状杂质或缺陷。
常用的仪器包括：
1. 穿透式X射线检测仪：使用高能X射线穿透材料，通过检测射线通过的程度来判断材料中是否含有针状杂质。
2. 超声波检测仪：使用超声波探测材料中的针状缺陷，通过测量超声波的传播时间和振幅变化来判断针状缺陷的存在。
3. 磁粉检测仪：利用磁场引起的磁粉颗粒在材料表面形成磁粉沉积，通过观察磁粉沉积的分布来检测针状缺陷。
4. 激光扫描显微镜：利用激光扫描材料表面，通过检测激光在针状杂质处反射的光信号来判断材料中的针状杂质。
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