激光颗粒尺寸分析仪：用于测量喷镀金属颗粒的尺寸分布，通过激光散射原理进行粒径分析。
薄膜测厚仪：用于检测金属薄膜的厚度，可以通过光学、电子或X射线等不同的测量原理进行测量。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察金属薄膜的表面形貌和微观结构，可以提供高分辨率的图像。
能谱仪：用于分析金属薄膜的成分，通过测量薄膜中不同元素的能谱信号，可以确定薄膜中各元素的含量。
显微硬度计：用于测量金属薄膜的硬度，通过压入金属薄膜表面的锥形钻头，可以计算出薄膜的硬度数值。
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中析研究所
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