光学显微镜：用于观察样品表面和内部的结构和形貌。
扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描电子束，获取样品表面的高分辨率图像。
透射电子显微镜（TEM）：通过透射电子束，观察样品的内部结构和原子排列。
原子力显微镜（AFM）：通过探针与样品表面的相互作用，获取样品表面的形貌和物理性质。
X射线衍射仪：通过照射物质并测量衍射图案，得到晶体的结构信息。
拉曼光谱仪：通过测量样品散射的光谱，分析样品的化学成分和分子结构。
质谱仪：通过测量样品中的离子化合物和分子的质量-电荷比，确定样品中的化学成分。
电子能谱仪（XPS或ESCA）：通过测量样品表面电子的能量分布，分析样品的元素成分和化学状态。
热重分析仪（TGA）：通过控制样品升温并测量其质量变化，分析样品的热稳定性和组成。
扫描隧道显微镜（STM）：通过量子隧道效应，观察和操控样品表面的原子和分子。
