正射投影技术（Orthographic Projection）是一种用于检测物体形状和尺寸的测量方法，通过将物体投影到一个平面上进行观测和测量。
正射投影技术的检测项目包括：
- 长度测量：用于测量物体的线段长度。
- 尺寸测量：用于测量物体的几何尺寸，如宽度、高度和厚度。
- 角度测量：用于测量物体的角度。
- 平行度测量：用于测量物体的平行度，即物体表面与参考平面的平行程度。
- 垂直度测量：用于测量物体的垂直度，即物体表面与参考平面的垂直程度。
- 圆度测量：用于测量物体的圆形度，即圆形物体边缘与理论圆形的偏差程度。
- 轴向测量：用于测量物体轴线的位置和偏移量。
- 表面粗糙度测量：用于测量物体表面的粗糙度，包括表面粗糙度参数的测定。
- 投影面积测量：用于测量物体在投影平面上的表面积。
- 轮廓测量：用于测量物体的轮廓形状。
- 表面距离测量：用于测量物体表面上的两点之间的距离。
- 平行线测量：用于测量物体表面上的两条平行线之间的距离。
- 轴向距离测量：用于测量物体轴线上的两点之间的距离。
- 圆心位置测量：用于测量圆形物体的圆心位置。
- 直线直角度测量：用于测量物体表面上的直线之间的直角度。
- 椭圆度测量：用于测量物体的椭圆形度，即椭圆边界与理论椭圆的偏差程度。
- 曲线弧度测量：用于测量物体表面上曲线的弧度。
- 对称性测量：用于测量物体的对称性。
- 形状测量：用于测量物体的整体形状。
- 轮廓平直度测量：用于测量物体轮廓的平直度。
- 投影比例测量：用于测量物体在投影平面上的比例。
- 长宽高比测量：用于测量物体的长宽高比。
- 平面度测量：用于测量物体表面的平面度。
- 重心位置测量：用于测量物体的重心位置。
- 角度平直度测量：用于测量物体表面上直线和平面之间的角度平直度。
- 圆柱度测量：用于测量圆柱形物体的圆柱度，即圆柱表面与理论圆柱的偏差程度。
- 平行面距离测量：用于测量物体表面上的两个平行面之间的距离。
- 投影体积测量：用于测量物体在投影平面上的体积。
- 直线度测量：用于测量物体表面上直线的直线度。
- 曲率测量：用于测量物体表面曲线的曲率。
