偏光显微镜：用于观察岩石、矿物等材料的微观结构和成分。
扫描电子显微镜：可以提供高分辨率的图像，用于观察细粒结构的表面形态和微观特征。
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构和成分。
粒度分析仪：用于测量颗粒的大小和分布。
比表面积分析仪：可以测量材料的比表面积，反映其细粒结构的特性。
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中析研究所
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