激光粒度分析仪：用于测量雾化锡粉的粒度分布。
X 射线衍射仪：分析雾化锡粉的晶体结构。
扫描电子显微镜：观察雾化锡粉的表面形貌和颗粒形态。
能谱仪：进行元素分析，确定雾化锡粉中的化学成分。
振实密度仪：测量雾化锡粉的振实密度。
比表面积分析仪：测定雾化锡粉的比表面积。
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中析研究所
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