X 射线荧光光谱仪：用于分析材料中的元素组成，可检测无金属中心组件中的元素。
扫描电子显微镜：可用于观察无金属中心组件的表面形貌和微观结构。
红外光谱仪：用于分析材料中的化学键和官能团，可检测无金属中心组件中的有机成分。
热重分析仪：可用于分析材料的热稳定性和成分，可检测无金属中心组件中的有机成分和无机物。
差示扫描量热仪：用于分析材料的热性能，可检测无金属中心组件中的相变和热稳定性。
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中析研究所
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