X 射线衍射仪：用于分析岩石中矿物的种类和含量，从而确定纹层的组成和结构。
扫描电子显微镜：可以观察纹层的微观结构和形貌，提供关于纹层形成过程和环境的信息。
薄片显微镜：用于观察岩石薄片中的纹层特征，如纹层的厚度、颜色、纹理等。
地球化学分析仪：可以分析纹层中的元素组成和同位素比值，了解纹层形成时的地球化学环境。
岩心扫描仪：能够快速、非破坏性地获取岩心的图像和数据，包括纹层的分布和特征。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/