X 射线衍射仪：利用 X 射线衍射原理，分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察到位错的露头和形态。
原子力显微镜：用于检测材料表面的微观结构和位错。
扫描隧道显微镜：能够提供原子级分辨率的表面图像，包括位错露头。
光学显微镜：在适当的条件下，可以观察到位错露头的存在。
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中析研究所
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