X 射线衍射仪：用于检测晶体结构和相组成，可确定伪析出物的类型和含量。
扫描电子显微镜：可以观察样品的表面形貌和微观结构，帮助确定伪析出物的分布和形态。
能谱仪：与扫描电子显微镜配合使用，可对伪析出物进行元素分析，确定其化学成分。
差示扫描量热仪：用于测量样品的热性能，如相变温度和热焓，有助于判断伪析出物的存在和性质。
透射电子显微镜：提供更高分辨率的微观结构信息，可用于深入研究伪析出物的晶体结构和缺陷。
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中析研究所
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