栅阻效应检测主要应用于半导体器件中，用于评估栅极与沟道之间的电阻，以及栅极控制沟道导电性的能力。
常见的栅阻效应检测对象包括但不限于：
金属-绝缘体-半导体（MOS）结构：如MOS场效应晶体管（MOSFET）。
高电子迁移率晶体管（HEMT）：如氮化镓高电子迁移率晶体管（GaN HEMT）。
碳纳米管晶体管（CNTFET）：如碳纳米管场效应晶体管（CNTFET）。
微电子学器件：如集成电路中的晶体管。
功率半导体器件：如功率MOSFET、功率IGBT等。
低温电子学器件：如低温电子学中的超导器件。
射频功率放大器。
操作放大器。
