1. 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）：原子力显微镜通过测量原子与探针之间的相互作用力，可以对原生石墨的表面形貌、形状和结构进行检测和分析。
2. 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）：扫描电子显微镜利用电子束与样品表面产生的不同信号（如二次电子信号、散射电子信号等），可以观察原生石墨的表面形貌、晶体结构以及化学成分。
3. 红外光谱仪（Infrared Spectrometer，IR）：红外光谱仪可以通过测量原生石墨在红外波段吸收或散射的光谱特性，来分析其化学组成、分子结构和特性。
4. X射线衍射仪（X-ray Diffractometer，XRD）：X射线衍射仪可以通过测量原生石墨对X射线的衍射图样来确定其晶体结构、晶体纯度和晶格参数。
5. 热重分析仪（Thermogravimetric Analyzer，TGA）：热重分析仪可以通过监测原生石墨在温度升降过程中的质量变化，来分析其热稳定性、热分解特性以及含水量。
