再辉点检测主要使用的仪器有：
1. 荧光显微镜：用于观察和分析再辉点的形态和分布情况。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：可以对再辉点进行高分辨率的表面形貌观察，以及能量散射谱（EDS）分析。
3. 透射电子显微镜（TEM）：可以对再辉点进行高分辨率的内部结构观察，以及选区电子衍射（SAED）分析。
4. 原子力显微镜（AFM）：用于观察再辉点的表面形貌和纳米级的高度测量。
5. X射线衍射（XRD）仪：可以确定再辉点的晶体结构和晶格参数。
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