阵列逻辑检测是通过对阵列逻辑器件进行测试和分析，以确保其电气性能和功能的一种方法。
常见的阵列逻辑检测方法有：
1. 功能检测：测试阵列逻辑器件是否按照设定的逻辑功能正常工作。
2. 电性能检测：测试阵列逻辑器件的电气参数，如电压、电流、功耗等。
3. 时序检测：通过测试阵列逻辑器件的输入和输出的时序关系，判断是否符合要求。
4. 故障模拟检测：通过人工或特定测试设备模拟故障情况，检测阵列逻辑器件在不同故障条件下的响应。
5. 温度测试：在不同温度条件下测试阵列逻辑器件的电性能和功耗。
6. 可靠性测试：测试阵列逻辑器件在不同环境条件下的可靠性和寿命。
