原射线束宽度检测主要应用于半导体行业中，用于测试射线束的宽度，以确保射线的精确度和稳定性。
常见的原射线束宽度检测对象包括但不限于：
半导体芯片：原射线束宽度检测可以用于测试芯片上的射线束宽度，以保证芯片在加工过程中的精度和稳定性。
光刻模板：原射线束宽度检测可以用于检测光刻模板上的射线束宽度，确保模板制作的精度。
液晶显示屏：原射线束宽度检测可以用于测试液晶显示屏上的射线束宽度，以保证显示效果的清晰度和准确性。
光学元件：原射线束宽度检测可以用于检测光学元件上的射线束宽度，以确保光学元件的成像质量。
微电子器件：原射线束宽度检测可以用于测试微电子器件上的射线束宽度，以确保器件的性能和稳定性。
集成电路：原射线束宽度检测可以用于测试集成电路上的射线束宽度，以保证电路的工作稳定性和精度。
