遮蔽检测主要用于检测物体表面的遮蔽层或薄膜的存在与质量情况。
常用的遮蔽检测仪器包括：
1. 遮蔽厚度计：用于测量遮蔽层的厚度，通常采用非接触式的无损测量原理，如光学干涉法、X射线法、电容法等。
2. 遮蔽剥离强度测试仪：用于测量遮蔽层在受力作用下的剥离强度，通常采用拉伸或剪切测试方法。
3. 多光谱扫描仪：用于对物体表面进行多波段的光谱扫描，通过分析扫描结果来判断遮蔽层的存在与质量。
4. 遮蔽性能分析仪：利用电磁波的传输特性对物体进行测试，可以测量遮蔽层对电磁波的屏蔽效果，如电磁干扰屏蔽材料测试仪。
5. 表面粗糙度测试仪：用于检测遮蔽层的表面粗糙度，常用方法包括激光散斑法、光栅法、电容法等。
