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激光粒度分析仪：用于测量细散颗粒的粒度分布。
电子显微镜：可以观察细散颗粒的形态和结构。
X 射线衍射仪：用于分析细散颗粒的晶体结构。
比表面积分析仪：测量细散颗粒的比表面积。
粒度分析仪：检测细散颗粒的粒度大小。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于：标准试验，非标检测，分析测试，认证设计，产品验收，质量内控，矢量分析，内部控制，司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。
