X 射线衍射分析：用于确定晶种的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：观察晶种的表面形貌和粒度分布。
粒度分析：测量晶种的粒径大小和分布范围。
化学分析：检测晶种中的化学成分和杂质含量。
热分析：研究晶种的热稳定性和相变行为。
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中析研究所
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