晶粒度检测：通过显微镜观察晶粒的大小和分布情况，以评估细晶粒结构。
X 射线衍射分析：利用 X 射线衍射图谱来确定晶体结构和晶粒尺寸。
电子背散射衍射（EBSD）：可以提供晶粒取向和尺寸的详细信息。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察微观结构，包括晶粒的形态和尺寸。
金相分析：通过制备金相试样，观察晶粒的形状、大小和分布。
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中析研究所
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