X 射线衍射仪：用于分析雾化镍粉的晶体结构。
激光粒度分析仪：测量雾化镍粉的粒度分布。
比表面积分析仪：测定雾化镍粉的比表面积。
扫描电子显微镜：观察雾化镍粉的表面形貌。
X 射线荧光光谱仪：分析雾化镍粉的化学成分。
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中析研究所
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