静压式物位检测：通过测量物位上方的压力来确定物位高度。
浮力式物位检测：利用浮力原理，通过测量物体所受浮力的变化来确定物位高度。
电容式物位检测：基于电容原理，通过测量电容值的变化来确定物位高度。
超声波物位检测：利用超声波在介质中的传播速度和反射特性来测量物位高度。
雷达物位检测：通过发射雷达波并接收反射波来测量物位高度。
射线式物位检测：利用放射性同位素发出的射线在介质中的衰减来测量物位高度。
光电式物位检测：通过测量光在介质中的折射或反射来确定物位高度。
微波物位检测：利用微波在介质中的传播特性来测量物位高度。
