整粒系统检测是一种用于评估颗粒物在特定环境中的整体粒度分布和质量的方法。以下是整粒系统检测的常用方法：
1. 振动筛分检测：通过将颗粒物通过筛网进行分级，测量每个筛网上的颗粒物剩余量，从而得出粒度分布。
2. 液体分散激光粒度仪：使用激光光束照射颗粒物悬浮液，测量散射光强度，从而得出颗粒物的粒径分布。
3. 静态图像分析法：通过在显微镜下观察颗粒物的图像，并使用图像处理软件进行分析，得出颗粒物的形状和大小分布。
4. 集中示踪法：在颗粒物中添加示踪剂，然后使用各种方法（如光谱分析、荧光显微镜等）检测示踪剂的浓度，从而得出颗粒物的分布。
5. 歧管分散法：将颗粒物在气流中进行分散，并使用气流冲击器将颗粒物分离成不同大小的组分，通过对每个组分的重量或计数进行测量，得出粒径分布。
