直立单晶检测常用的仪器有：
1. X射线衍射仪：用于分析晶体的结构和纯度，通过照射晶体样品并测量衍射的X射线，可以确定晶体的结晶方向、晶格参数和晶体的组分。
2. 光学显微镜：用于观察晶体在可见光下的形态、结构和纯度，并且可以检测晶体中的缺陷、杂质和晶体的取向。
3. 四轴坐标测量机：用于测量晶体样品的尺寸、形状和位置，可以进行高精度的三维测量和表面形貌分析。
4. 扫描电子显微镜：用于观察晶体表面的形貌和微结构，可以提供更高分辨率的图像，并且可以通过能谱分析确定晶体的元素成分。
以上仪器是常用于直立单晶检测的工具，可以提供详细的结构分析、形貌表征和成分检测等信息。
