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无屏蔽曝光检测-检测方法

X 射线检测:利用 X 射线穿透物体,检测内部结构和缺陷。

γ射线检测:适用于检测较厚的物体或有屏蔽的情况。

中子检测:用于检测含有氢元素的材料。

超声检测:利用超声波在物体中的传播特性进行检测。

磁粉检测:检测铁磁性材料表面和近表面的缺陷。

渗透检测:适用于检测表面开口的缺陷。

涡流检测:检测导电材料的表面和近表面缺陷。

红外检测:检测物体表面的温度分布,发现异常。

激光检测:高精度检测物体的形状、尺寸和表面缺陷。

无屏蔽曝光检测-检测方法
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。