X 射线检测：适用于检测物体内部的缺陷和结构。
超声波检测：可用于检测材料的缺陷、厚度和结构。
磁粉检测：主要用于检测铁磁性材料表面和近表面的缺陷。
渗透检测：用于检测表面开口缺陷。
涡流检测：可检测导电材料的表面和近表面缺陷。
射线检测：适用于检测物体内部的缺陷和结构。
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中析研究所
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