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X 射线衍射法：通过分析晶体结构的衍射图谱来检测沃特拉位错。
电子显微镜法：直接观察材料中的位错结构。
原子力显微镜法：可用于检测表面的位错。
光学显微镜法：在某些情况下可观察到位错。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于：标准试验，非标检测，分析测试，认证设计，产品验收，质量内控，矢量分析，内部控制，司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。
