薄片鉴定：通过显微镜观察岩石薄片中的纹层特征，包括纹层的厚度、颜色、成分等。
X 射线衍射分析：用于确定纹层中矿物的种类和含量。
扫描电子显微镜：可以提供纹层的微观结构和表面特征信息。
地球化学分析：检测纹层中元素的分布和含量，以了解其形成环境和过程。
地震反射剖面：用于识别地下纹层地层的分布和特征。
测井分析：通过测量岩石的物理性质来推断纹层的存在和特征。
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中析研究所
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