正刃型位错检测是一种用来检测材料中正刃位错的方法，常用的仪器有：
1. 位错解析仪：能够测量和分析材料中的位错类型、密度、长度和方位角等参数。
2. 透射电子显微镜（TEM）：利用电子束穿透材料，并通过位错的散射效应来观察和分析位错的形态和位置。
3. 分子力显微镜（AFM）：通过探针对材料表面进行扫描，可以获得纳米尺度下位错的形态和分布情况。
4. X射线衍射仪（XRD）：通过材料中的晶格畸变和位错对X射线的散射效应，来分析位错的类型和密度。
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