X 射线衍射分析：用于分析晶体结构和材料的相组成。
小角 X 射线散射：研究纳米级结构和颗粒大小分布。
织构分析：确定材料中的晶体取向分布。
残余应力分析：测量材料中的残余应力。
薄膜分析：分析薄膜的厚度、结构和成分。
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中析研究所
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