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X 射线衍射法：通过分析晶体对 X 射线的衍射图案，确定晶体的位向。
电子背散射衍射法：利用电子束在晶体表面的散射，获得晶体的位向信息。
光学显微镜法：通过观察晶体的光学特性，推断晶体的位向。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于：标准试验，非标检测，分析测试，认证设计，产品验收，质量内控，矢量分析，内部控制，司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。
